侧向层析检测(LFT)
我们开发了一种光学读出器,用于改进侧向层析检测(LFT)。凭借设计简单性和相关准确性,侧向层析检测(LFT)能够以经济高效的方式实现大批量生产,从而得到广泛应用。侧向层析检测(LFT)紧凑小巧、便于携带且易于使用。目前侧向层析检测(LFT)的缺点包括灵敏度限制、信号量化困难以及多分析物检测而不是单一用例的需求。为解决这个问题,我们开发了一种小型且经济高效的光学模块,以提高侧向层析检测(LFT)的性能。
该技术提高了光学灵敏度,允许进行多分析物检测,并适应不同的光学测量方法,例如反射和荧光测量。包含光谱传感器的ams光学模块可以集成到侧向层析检测(LFT)中。 专用光学模块基于光谱传感技术. 如需使用此光谱传感芯片AS7341,需要先获得ams的许可和支持。 有关价格和支持,请联系我们。
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