侧向层析检测(LFT)

我们开发了一种光学读出器,用于改进侧向层析检测(LFT)。凭借设计简单性和相关准确性,侧向层析检测(LFT)能够以经济高效的方式实现大批量生产,从而得到广泛应用。侧向层析检测(LFT)紧凑小巧、便于携带且易于使用。目前侧向层析检测(LFT)的缺点包括灵敏度限制、信号量化困难以及多分析物检测而不是单一用例的需求。为解决这个问题,我们开发了一种小型且经济高效的光学模块,以提高侧向层析检测(LFT)的性能。

该技术提高了光学灵敏度,允许进行多分析物检测,并适应不同的光学测量方法,例如反射和荧光测量。包含光谱传感器的ams光学模块可以集成到侧向层析检测(LFT)中。

专用光学模块基于光谱传感技术. 如需使用此光谱传感芯片AS7341,需要先获得ams的许可和支持。 有关价格和支持,请联系我们

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移动设备的光谱传感

艾迈斯半导体是芯片级光谱传感解决方案的领先供应商,提供具有各种独特滤波器特性的产品。

 

这些解决方案受益于艾迈斯半导体的专有技术(用于直接在晶圆上制作干涉测量滤光片,在传感器大小的封装中提供光谱仪般的性能)。艾迈斯半导体光谱传感器能够将光谱拼接成可以读取和分析的独立信号。

艾迈斯半导体的干涉测量滤光片具有光谱特性,适用于可见光和近红外 (NIR) 范围的各种应用。随着提供更高通道数量和分辨率的新型传感器的发展,越来越多的应用开始走出实验室并进入移动和消费设备。

具有光源检测功能的光谱ALS可提升自动白点平衡性能

对于特定场景,确定理想的相关色温(CCT)或白点值可能非常困难。各种光源和光照条件会使图像颜色失真,图像变形,而且混合光源会强化这种影响。即使是室内或场景中的正常物体,感知到的CCT值也会偏离光源(红墙、蓝天、绿色森林)的实际值。闪烁的光源或背景物体(如显示屏)同样会影响图像的质量。


光谱环境光传感器可测量光源,并对CCT与其他影响因素的失真效果进行光谱估算。如今,系统可使用实测值配合检测到的光源来确定理想的白点CCT值。集成flicker检测功能的芯片可消除环境闪烁的影响,并与摄像头快门时间同步。这种传感器可测量图像的显色指数(CRI)值。光谱ALS传感器还可激活后处理改进选项。  了解有关我们光谱传感器的更多信息,并下载芯片级白皮书

关键特性

  • 超小型封装
  • 晶圆级滤波器沉积
  • 专用沉积设备,可用于坚固的无机滤波器
  • 大批量生产和光学传感器测试
  • 提供标准和定制版滤光片组

主要优点

  • 将光谱实验室带入采样领域
  • 实现极小化 PCB 设计
  • 降低物料清单成本,催生众多全新应用
  • 高度稳定的滤波器特性
  • 满足移动应用的低功耗要求