ラテラルフロー試験(LFT)
当社は、ラテラルフロー試験(LFT)を改善する光学読取方式を開発しました。LFTはシンプルな設計で必要な精度が得られるのが主な理由で、広範に利用されています。そのため、低コストで大量に試験を実施できます。LFTは小型で携帯でき、簡単に使用できます。現時点におけるLFTの主な短所には、感度の限界、信号定量化の難しさ、単回使用ではなく多重分析を行える検出の確立が挙げられます。こうした問題を克服するため、当社はLFTの性能を改善する小型で低コストな光学モジュールを開発しました。
本技術は光学感度を改善し、多重分析を可能にし、反射測定や蛍光測定といった様々な光学測定方式に対応できます。分光センサーを内蔵するamsの光学モジュールは、LFTへ統合できます。
この専用光学モジュールは、分光検出技術に基づいています。この分光検出チップ、AS7341を使用する場合は、amsのライセンスとサポートを取得済みの必要があります。価格とサポート情報については、当社までお問合せください。
Download factsheet English version